Вы используете устаревший браузер. Этот и другие сайты могут отображаться в нём некорректно. Вам необходимо обновить браузер или попробовать использовать другой.
Российские ученые в 2025 году успешно завершили испытания промышленных прототипов энергонезависимой памяти на основе сегнетоэлектрического оксида гафния (HfO₂), созданных совместно с отечественными разработчиками микросхем и полупроводниковыми производствами. Разработка нужна чтобы создавать в нашей стране собственные перспективные технологии памяти, востребованные для интернета вещей, портативной электроники и нейроморфных вычислений. Практическая реализация технологии потребовала кооперации с промышленными партнерами при поддержке Фонда перспективных исследований. В рамках совместного проекта с НИИМЭ, НИИИС и ПАО «Микрон» отработали цикл изготовления, включающий рост сегнетоэлектрических слоев в МФТИ и дальнейшую обработку на промышленных линиях.
В результате был создан и испытан в 2025 году функциональный прототип микросхемы памяти. Хотя его емкость и характеристики требуют дальнейшего улучшения, продемонстрирована принципиальная возможность промышленного производства.
На данном сайте используются файлы cookie, чтобы персонализировать контент и сохранить Ваш вход в систему, если Вы зарегистрируетесь.
Продолжая использовать этот сайт, Вы соглашаетесь на использование наших файлов cookie.